خطاهای اندازه گیری و قابلیت اطمینان
بدیهی اول تئوری آزمون کلاسیک اولین بدیهی نظریه آزمون می گوید که یک مقدار اندازه گیری شده همیشه از مقدار واقعی و یک خطای اندازه گیری تشکیل شده است. X = W + ex فقط با کامل قابلیت اطمینان آیا خطای اندازه گیری = 0 است و مقدار اندازه گیری شده مقدار واقعی است. اما در عمل ، این تقریباً هرگز رخ نمی دهد! از آنجا که خطای اندازه گیری ناشناخته است ، فرد مقدار واقعی اندازه گیری را نمی داند.
خطای استاندارد اندازه گیری
اگر قابلیت اطمینان از روش اندازه گیری مشخص است ، می توان اصطلاحاً خطای استاندارد اندازه گیری را تعیین کرد: خطای استاندارد اندازه گیری: ex = ± sx؟ 1-rrel 68٪ خطاها در این بازه رخ می دهد. خطاهای بزرگتر را فقط می توان برای 32٪ انتظار داشت. برای به دست آوردن اطلاعات مهم تر ، قابلیت اطمینان باید افزایش یابد
پدیده رگرسیون مرکز
در رویه های آزمون ، برخی مقادیر ممکن است به خصوص خوب یا به خصوص بد بدل شوند. برای این مقادیر یک مقدار واقعی بالا می تواند با یک خطای اندازه گیری زیاد کاذب یا یک مقدار کم واقعی با یک خطای اندازه گیری کم کاذب مرتبط باشد. این واقعیت که این پدیده با تکرار اندازه گیری دوباره اتفاق می افتد بسیار ناچیز است.
رگرسیون به وسط به این معنی است که اندازه گیری های کاذب کم و زیاد کاذب در طول تکرار اندازه گیری تمایل دارند که در وسط قرار بگیرند. این مقادیر تغییر برای ارزیابی تغییر ناشی از آموزش بی فایده است.
تمام مقالات این مجموعه:
